История
Постоянное усложнение проектов микросхем привело к тому, что эффективность традиционных методов тестирования существенно сократилась.
Для преодоления возникшей проблемы несколько ведущих мировых производителей микросхем объединились в организацию под названием Joint Test Action Group. Результаты исследований этой группы были взяты за основу организацией Institute of Electrical and Electronic Engineers (IEEE), и в результате был разработан стандарт 1149.1: Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture. Этот стандарт известен под названием JTAG.
Использование JTAG
Для каждой микросхемы, в которой заявлена поддержка стандарта JTAG, обязательно должен быть подготовлен так называемый BSDL файл, который описывает особенности реализации JTAG в данной конкретной микросхеме.
Аппаратно-независимое описание правильных последовательностей тестов пересылаемых через JTAG хранится в отдельном файле в формате SVF. |
