Войти|Зарегистрироваться|Напомнить
Дополнительные материалы

Повторное использование

Повторное использование тестов для RAM


Очень часто требуется протестировать размещённую на плате микросхему памяти. Возможность использовать какие нибудь стандартные алгоритмы тестирования ускорило бы процесс подготовки тестов. XJTAG содержит такие алгоритмы. Поставляемые с XJTAG библиотечные тесты включают, в том числе и тесты для RAM. Для их использования необходимо скопировать из директории инсталляции XJTAG в директорию проекта файл memtestSRAM.xje.

Для выполнения дальнейшей работы потребуется ещё файл SRAM_SOP28.xje, который также необходимо скопировать в директорию проекта. После копирования, в проекте необходимо заменить ссылку на файл BS62LV256.xje ссылкой на SRAM_SOP28.xje.


- На самой левой панели окна XJDeveloper перейдите в раздел Categorise Devices
- В области Test Devices выделите компонент IC5
- Нажмите кнопку Configure в нижней части области Test Devices
- В появившемся диалоговом окне Configure Test Device нажмите кнопку Other Device File...
- Выделите SRAM_SOP28.xje
- Нажмите OK

Т.к. тестирующая функция в новом файле имеет такое же название Test как и в заменяемом файле, для запуска теста не требуется проводить каких-либо дополнительных настроек.

Запустите тестирование и попытайтесь повынимать перемычки JP2 или JP3 для имитации обрыва на шине адреса или данных. Также можно сымитировать короткое замыкание замкнув перемычкой контакты между JP5 и JP6.

Тест для IIC EEPROM


Для тестирования IIC EEPROM также можно воспользоваться библиотечным тестом входящим в поставку XJTAG. Для этого необходимо скопировать файл IIC.xje в директорию проекта.

EEPROM не содержит каких-либо кодов производителей, которые можно было бы прочитать, поэтому тест будет заключаться в записи данных в память и чтении этих же значений.

При помощи раздела Test Device Files окна XJDeveloper вставьте в файл 24LC32A.xje следующий текст:

Данный код использует функции IIC_Read и IIC_Write. На данном этапе, если сохранить редактируемый файл, возникнут следующие ошибки:

Так как эти функции являются стандартными для тестированию любых микросхем IIC, они были вынесены в отдельный файл IIC.xje, который необходимо подключить к 24LC32A.xje как дополнительный:

- В области Additional Code Files нажмите Add...
- Выделите IIC.xje
- Нажмите OK
- Нажмите Save на панели инструментов окна XJDeveloper

Только что добавленную функцию теперь надо сделать доступной из XJRunner:

- На самой левой панели окна XJDeveloper перейдите в раздел Run & Deploy в выберите XJRunner Test List
- В нижней части области XJRunner Tests нажмите New...
- В поле Test Name введите EEPROM test
- Нажмите кнопку Add Device Function
- В появившемся диалоговом окне Available Device Functions разверните раздел Suggested Devices и выделите IC4
- В области Function Selector выберите Test
- Нажмите OK
- Нажмите OK
- Нажмите Save на панели инструментов окна XJDeveloper
- Перейдите в раздел Run Tests
- В нижней части самой правой панели в меню Select выберите None
- На самой правой панели в списке тестов дважды щёлкните левой клавишей мыши по EEPROM
- При помощи кнопки Run запустите выбранный тест, он должен пройти без ошибок