Войти|Зарегистрироваться|Напомнить
Дополнительные материалы

Более сложные компоненты

"Более сложный" компонент - это статическая память - IC5. Далее будет показано как сделать тест, который будет записывать, а затем считывать данные из памяти, таким образом будет проводиться проверка работы памяти.

Запись - Write


Последовательность записи описана в специализированном документе под названием Datasheet, который поставляется с компонентами. Последовательность следующая:

- Вывести данные на шину D0-D7 и адрес записи на шину A0 - A10;
- Вывести нули на сигналы CS (chip select) и WE (write enable);
- Вывести единицы на сигналы CS (chip select) и WE (write enable).

Функция реализующая данную последовательность приведена ниже.

- В окне XJDeveloper в области Test Device Files откройте на редактирование BS62LV256.xje и добавьте следующий код:

Чтение - Read


Алгоритм чтения похож на алгоритм записи:

- Вывести адрес на A0 - A10. Отключить шину данных.
- Вывести нули на CS и OE (Output Enable)
- Вывести единицы на CS и OE и считать шину данных.

- Добавьте следующий текст:

Теперь нужно ввести функцию тестирующую компоненту целиком:

- На самой левой панели окна XJDeveloper перейдите в раздел Run & Deploy и нажмите кнопку XJRunner Test List
- Нажмите кнопку New... в нижней части области XJRunner Setup
- В поле Test Name введите SRAM test
- Нажмите кнопку Add Device Function
- В появившемся диалоговм окне Available Device Functions разверните раздел Suggested Devices и выделите IC5
- В области Function Selector выделите Test
- Нажмите OK
- Нажмите OK
- Сохраните проект при помощи кнопки Save на панели инструментов окна XJDeveloper
- Перейдите в раздел Run Tests
- В нижней части самой правой панели в меню Select выберите None
- На самой правой панели в списке доступных тестов дважды щёлкните левой клавишей мыши по SRAM test
- Запустите тест при помощи кнопки Run. Тест должен завершиться успешно.

При помощи перемычк JP2 можно эмитировать неисправности.

Дополнение к тесту


Попытайтесь добавить цикл FOR с целью посчитать количество всех доступных адресов памяти и проверить доступность каждого адреса на запись и чтение всех нулей и всех единиц. Сколько времени это потребует? Сможет ли данный подход отловить разрывы цепей эмитируемые размыканием перемычек JP2 и JP3?

Составные части комплекса